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產(chǎn)品名稱:

外延片測溫儀

描述:Sekidenko OR400M 外延片測溫儀可選波長3.3或5.2μm,具有RS232數(shù)字輸出和模擬輸出接口,適用于薄膜太陽能,玻璃,半導(dǎo)體工藝溫度的精確測量。
訪問次數(shù): 2588
更新時間: 2024-04-23

產(chǎn)品介紹

Sekidenko OR400M 外延片測溫儀主要特點

  • 自動環(huán)境溫度校準(zhǔn)

  • 結(jié)構(gòu)緊湊,易于集成

  • 高速固態(tài)光電探測器

  • 薄膜光伏電池生產(chǎn)過程的實時測量

  • 可配置的濾光片,探測器和光學(xué)傳輸系統(tǒng)

詳細(xì)說明

OR400M 單通道中波光學(xué)高溫計用于需要更長波長的半導(dǎo)體應(yīng)用,例如測量真空室內(nèi)的石英。高溫計安裝在腔室外通過視窗進(jìn)行非接觸式測量。

由于玻璃具有*的透射特性,因此測量玻璃溫度必須選擇更長的波長(通常在5 µm以上)。這些波長使高溫計可以“看見”玻璃基板,而不是透過玻璃測量對側(cè)的物體或薄膜的輻射。OR400M 可在5.2 µm工作波段下對基于玻璃的應(yīng)用(包括高雜散光背景存在情況)進(jìn)行的精確測量

OR400M光學(xué)高溫計可選用3.3 µm的近紅外波段和5.2 µm的中紅外波段。該設(shè)備的波長范圍非常適合光伏(PV)太陽能應(yīng)用中疊層PV電池組中的特定層溫度的測量。PV電池層包括TCO(透明導(dǎo)電氧化物)層,鉬背面接觸層以及CIGS(硒化銅銦鎵)或CdTe(碲化鎘)沉積層。 為了選擇正確的波長來測量每層的溫度,必須考慮以下幾點:

  • 層的透射率屬性

  • 層的厚度

  • 層的發(fā)射率

  • 背景雜散光對測試的影響

 

技術(shù)參數(shù)

通用參數(shù)

配置

單通道溫度測量

溫度范圍

50 至 1300°C

波長3.3 和 5.2 µm ,可訂制
讀取速率高達(dá) 250 Hz
測溫精度±3°C

重復(fù)精度

±0.1°C

分辨率0.01°C
接口
屏幕顯示無,可通過RS232設(shè)置
數(shù)據(jù) I/O高達(dá)115 kB的 RS-232 輸出
模擬輸出0 至 10 V 或 4 - 20 mA
電參數(shù)

輸入電壓

AC: 90 to 263 VAC, 47 to 63 Hz

DC: +24 VDC

環(huán)境參數(shù)
使用環(huán)境15 to 40°C (64 to 104°F), 非凝露
物理特性
物理尺寸

32 mm (H) x 57 mm (W) x 235 mm (D)

1.26" (H) x 2.30" (W) x 9.26" (D)

重量0.39 kg (0.87 lb)
安裝框架安裝,安裝塊上有安裝孔;有關(guān)更多信息,請參考手冊。
電源線電流100 VAC時,小于0.7A

Sekidenko OR400M 外延片測溫儀

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